马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。
您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？立即注册
×
对 结构工程师来说，最难解决的问题可能就是可靠性问题了，这些问题往往都是看的见，摸不着，这就不要结构工程师有很好的分析问题的能力，工程师能力的强弱在分析可靠性问题方面有一个比较好的比较，但首先，我们必须了解可靠性实验的方法和标准，每个公司的标准和测试方法可能有所不同，但大致是差不多的； 总的来说，可靠性测试大致分为如下及类：加速寿命测试ALT，气候适应性测试，结构耐久测试，表面装饰测试，特殊条件测试；结构上最容易出问题的经常都是跌落试验，重复跌落，滚筒等几项；本文就对结构问题比较多的可靠性实验做一个介绍：
1.跌落试验（Drop Test） l 测试环境：室温（20-25℃） l 测试目的：暴露因高低温冲击引诱的样品缺陷 l 参考标准：GB/T2423.8-1995 l 测试设备：跌落测试机 l 测试检查项目： 1）电性能参数测试：如果被测试样品为GSM/DCS，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为CDMA，参照附录二进行参数测试。 2）功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能。 3）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。 4）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 5）内存时钟：样机中存中存入5个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 l 测试方法： 1）样机中存中存入5个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 2）将样机设置为开机插卡状态，对手机进行6个面1.5m的自由跌落实验，每个面的跌落次数为2次，每个面跌落面都要对手机的外观、结构、内存、时间和功能进行检查。 3）跌落顺序为： 直板及翻盖手机：左侧面、背面、右侧面、底面、顶面、正面。 滑盖手机：底面、顶面、背面、正面、左侧面、右侧面。 4）跌落过程中，对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。5）若样品数量为奇数，则多的一台打开翻盖或滑开滑盖。 6）测试条件：跌落高度1.5m，20mm厚的大理石地板。（对于PDA手机，根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.3m） l 测试标准：手机外观、结构、功能及内存时间无异常。 1）参数测试：与综测仪连接进行参数测试，电性能符合测试要求。 2）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、LED、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。 3）结构检查：装饰件、logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出、断裂；LCD无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响，Lens无破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象； 4）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象 5）样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、超前、滞后等； 6）备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题。
2重复跌落测试（Micro-Drop Test）
l 测试环境：室温（20~25）℃ l 测试目的：验证样品重复跌落的可靠性 l 测试设备：桌面跌落机 l 测试样品数量：不少于2台样机 l 测试检查项目： 1）参数测试：如果被测试样品为GSM/DCS，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为CDMA，参照附录二进行参数测试 2）功能测试：拨打电话、显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能 3）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构4）外观测试：喷涂、印刷、电镀，以及其它未描述到的外观； 5）内存时钟：存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间 l 测试方法： 1）在手机中预存入5个电话和5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 2）将样机设置为开机状态，插入测试卡，进行7cm重复跌落50,000次，第5,000次对样品进行功能、结构、外观、内存及时间的检查。 3）跌落速率为：20次/分钟。 4）跌落高度：7cm。 5）跌落时一半样品跌正面，一半样品跌背面。 l 试验标准：重复跌落50,000次后，对样品进行如下检查 1）参数测试：可与综测仪建立连接进行参数测试，手机参数应符合测试要求 3）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、LED、扬声器、受话器、回音、按键、指示灯、拍照、充电等功能无异常，无关机、掉卡现象以及其它未描述到的功能均正常。 3）结构检查：装饰件、Logo及Cover 等无脱落，壳体、卡钩无脱出、断裂；LCD无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂；晃动无异响；Lens无破裂、脱落以及其他与测试前状态不一致的现象。 4）外观检查：壳体表面无明显掉漆、无裂纹、破损、冲击痕以及其他与测试前状态不一致的现象。 5）样品内存：时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱、复位、超前或滞后等）；
3.滚筒跌落测试（Free Fall Test）
l 测试环境：室温（20-25℃） l 测试目的：验证手机疲劳跌落的可靠性 l 参考标准：GB/T 2423.8-1995； IEC 68-2-32:1990 l 测试设备：滚筒跌落测试机 l 测试样品数量：不少于2台 l 测试检查项目： 1）参数测试：如果被测试样品为GSM/DCS，参照附录一进行参数测试。如果被测试样品为CDMA，参照附录二进行参数测试。 2）功能测试：拨打电话，显示、铃声、振动、按键、收话器、受话器、回音、指示灯、拍照、充电、蓝牙、MINI SD卡以及其它未描述到的功能。 3）结构测试：壳体配合、结构件配合、天线、Lens、显示屏、装饰件以及其它未描述到的结构。 4）外观测试：喷涂、印刷、电镀等，以及未描述到的外观。 5）内存时钟：样机中存中存入5个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 l 测试方法： 1）将样机设置为开机不插卡状态，样机中存入5个电话和5 条短信息，设置手机时钟为当前日期时间。 2）将样品放入滚筒跌落试验机，进行高度为500mm的1000次随机跌落测试。 3）每100次对样品进行功能与结构检查，每500次进行电性能检查。 4）对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置，一半样品闭合为初始状态；对于滑盖手机应将一半样品合上滑盖，一半样品将滑盖打开到上限位置。 l 测试标准：手机外观、结构、功能及内存时间无异常。 参数测试：样品电性能测试合格。 2）功能检查：能正常拨打电话、显示、振动、LED、扬声器、受话器、回声、按键、拍照、充电功能正常以及其它未描述到的功能均无异常。 3）结构检查：装饰件、logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出、断裂；LCD无破裂；天线无脱出、脱落；转轴无松动、错位、脱出或断裂；滑盖无松动、脱出、断裂、晃动无异响，Lens无破裂、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象。 4）外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹、破损、冲击痕以及其它与测试前状态不一致的现象。 5）样品内存：时钟无异常（内存无丢失、时钟无混乱、复位、超前、滞后等） 6）备注：电池/电池盖脱落、关机及掉卡等、如重启无异常，不记录为有问题。
| 
